kett膜厚计测试仪LE-373
kett膜厚计测试仪LE-373
主な仕様
測定方式 電磁誘導式 測定対象 磁性体上の非磁性被膜 測定範囲 0～2500μmまたは99.0mils 測定精度 50μm未満：±1μm、50μm以上1000μm未満：±2％、1000μm以上：±3％ 分解能 100μm未満：0.1μm、100μm以上：1μm 適合規格 JIS K5600-1-7、JIS H8501、JIS H0401 / ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499、ASTM D 7091-5、ASTM E 376 データメモリ数 約39,000点 検量線メモリ アプリケーションメモリ：100本の検量線を記憶 プローブ 一点接触定圧式（LEP-J） 表示方法 デジタル（バックライト付LCD、表示最小桁0.1μm） 外部出力 パソコン（USBまたはRS-232C） 電源 電池1.5V（単3アルカリ）×4 消費電力 80mW（バックライト非点灯時） 電池寿命 100時間（バックライト非点灯時、連続使用） 使用温度範囲 0～40℃ 付加機能 各種機能16種 寸法?質量 75（W）×145（D）×31（H）㎜、0.34Kg 付属品 標準板（10μm?50μm?100μm?500μm?1000μm?1500μm いずれも近似値?各1枚）、標準板ケース、鉄素地（FE-373）、プローブアダプタ、キャリングケース、電池1.5V（単3アルカリ）×4 オプション 標準板（付属品以外の厚さ）、測定スタンドLW-990、パソコンケーブル、RS-232C-USBケーブル、データ管理ソフト：「データロガー LDL-03」
