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马尔文纳米粒度电位仪Zetasizer Nano S90

参考价面议
具体成交价以合同协议为准
  • 公司名称武汉茂迪科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       号Zetasizer
  • 所  在  地
  • 厂商性质其他
  • 更新时间2023/6/16 9:54:52
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基本情况

武汉茂迪科技有限公司创立于2012年 ,多年来在实验室仪器业界创立了良好的专业技术和服务品牌,作为的综合性科学服务提供商,凭借自身强大的技术后盾、经济实力、客户基础、销售网络和品牌忠诚度,被数百家国内外科学仪器厂商为其产品在中国的一级代理。公司自创立以来,始终以成为客户的实验室管家为宗旨,秉承“诚信、专业、快速、创新”的服务理念,先后服务于包括政府专业实验室、大专院校、药检、商检、质检、工业企业研发、计量中心以及市政工程等广泛领域。

2012年,公司通过整合行业优质丰富的产品资源,*的物流配送系统,优化订货流程,快速审核,直接下单无需预付,旨在通过齐全的产品线和系统化服务为广大科研工作者提供整体解决方案,全面降低时间精力成本,提高工作效率,创造成就!

ZetasizerNanoS90是一种的高性价比解决方案,适合需要较高粒度测量灵敏度,或者需要与采用90度散射光学元件的原有系统结果相同的情况
马尔文纳米粒度电位仪Zetasizer Nano S90 产品信息

Zetasizer Nano S90是一种的高性价比解决方案,适合需要较高粒度测量灵敏度,或者需要与采用90度散射光学元件的原有系统结果相同的情况。

  • 使用90度散射光学元件,在0.3nm(直径)到5μm的范围内测量粒度。
  • 分子量测量最小可达9,800Da。
  • "质量因子"及"专家诊断系统"尤如专家伴随您的左右,使您成竹在胸。
  • 21 CFR Part 11 软件选项可实现ER/ES合规性。
  • 科研级软件选项,为光散射专家提供了进一步分析描述运算法则的机会。
  • 使用自动滴定仪选件进行自动测量。
  • 可选择激光器,50mW,532nm,用于标准633nm激光器不能检测的样品
  • 光学滤波片,改善荧光样品的测量。
  • 温度范围可达120?C。
  • 该系统日后可升级为带有zeta电位测量功能的系统。

工作原理

Zetasizer Nano S90在一种紧凑型装置中包含了三种技术,且拥有一系列选件及附件,以便优化并简化不同样品类型的测量。

动态光散射法用于测量粒度及分子大小。 该技术可测量布郎运动下移动颗粒的扩散情况,并采用斯托克斯-爱因斯坦关系将其转化为粒度与粒度分布。

静态光散射法用于确定蛋白质与聚合物的分子量。 在此检测方法中,检测不同浓度下样品的散射光强,并且绘制Debye曲线。 通过该装置,可以计算平均分子量和第二维里系数。
这种测量对整个系统的稳定性的要求非常高,意味着每个设计元素都进行了优化,以确保精度和可重复性。

软件
该软件设计旨在不影响使用简便性的情况下实现功能特点的丰富多样。 标准操作程序(SOP)可简化常规测量,质量因子可对成功测量进行确认,专家建议系统则可为数据说明提供协助。

MPT-2自动滴定仪可对pH值、电导率或任何添加剂中的变化影响进行自动化研究。

一系列可抛弃性以及可重复使用的样品池,可对样品体积、浓度以及流量方面的测量进行优化。

其它选件包括可改善荧光样品测量的滤波器,温度范围高达120?C,以及一个粘度计,用于确定样品粘度达到技术要求的精确性。

颗粒粒度及分子大小

测量范围::0.3nm - 5.0 微米*(直径)

测量原理::动态光散射法

最小样品容积::20µL

精确度:优于NIST可追溯胶乳标准的+/-2%

精确度 / 可重复性:优于NIST可追溯胶乳标准的+/-2%

灵敏度:10mg/mL(溶解酵素)

分子量。

测量范围::分子

量测量原理:静态光散射法,使用德拜图

最小样品容积::20µL(需要3-5种样品浓度)

精确度:+/- 10% 典型值

温度控制范围:0°C - 90°C +/-0.1**, 120°C

选装光源:He-Ne 激光器 633nm, 4mW

激光安全:1类

电源功率:100VA

重量与尺寸:

尺寸::320mm、600mm、260mm(W、D、H)

重量:21 kg

运行环境:

温度范围:10°C – 35°C

湿度:35% - 80%不结露

备注:

*:范围,以样品为准**:25°C条件下:Zetasizer Nano系列受以下保护:|非侵入背散射 (NIBS)|EP884580,US6016195,JP|高频和低频电泳 (M3)|EP1154266,US7217350,JP |使用同时检测的光散射测量|EP2235501,CN102066901,JP2011523451,US|插入式样品池表面电位测定|WO2012172330


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